Mikroskop s rastrující sondou - AFM
Kompletní sada mikroskopu s rastrující sondou (SPM) s veškerým příslušenstvím podle následujících specifikací, které by měly umožnit veškeré operace v kapalinách a na vzduchu. Možné měřící módy musí být Contact, Non-Contact, Intermittent contact, MFM, EFM, STM, nanolitografie a nanoindentace. AFM bude využíváno pro měření vlastností materiálů různého typu a jejich vzájemnou interakci, vč. interakce s živými buňkami. Je nutné mít možnost měřit jak transparentní, tak neprůhledné vzorky: Kompletní sada atomic force microscope (AFM) s veškerým příslušenstvím podle následujících specifikací, které by měly umožnit veškeré operace v kapalinách a na vzduchu. Možné měřící módy musí být Contact, Non-Contact, Intermittent contact, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM), Scanning Tunneling Microscopy (STM), nanolitografie a nanoindentace. AFM bude využíváno pro měření vlastností materiálů různého typu a jejich vzájemnou interakci, včetně interakce s živými buňkami. Je nutné mít možnost měřit jak transparentní, tak neprůhledné vzorky.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2011-11-28.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2011-09-30.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2011-09-30
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2012-03-23
|
Oznámení o zadání zakázky
|