Skenovací „Near – field“ optický mikrospektrometr s AFM
Předmětem zakázky je dodávka, instalace a uvedení do provozu Přístroje umožňujícího současné měření optických vlastností (Ramanova a luminiscenční spektroskopie) a zobrazení povrchu pomocí AFM s vysokým spektrálním a prostorovým rozlišením. AFM musí umožňovat práci v těchto měřících módech: Contact AFM/ LFM/ ResonantMode (semicontact + noncontact AFM)/ Phase Imaging/ Force Modulation (viscoelastisity)/ MFM/ EFM/ Adhesion Force Imaging/ AFM Lithography-Force /Spreading Resistance Imaging (SRI)/ AFM Lithography-Voltage/Scanning Capacitance Imaging (SCI)/ Scanning Kelvin probe microscopy(SKM)/ PFM. Optická část musí umožňovat práci v módech: Zobrazení zářivého pole (0.4 μm rozlišení v kombinaci s AFM a větší bez AFM), Konfokální Ramanova mikroskopie (Konfokální fluorescenční mikroskopie) Konfokální laserová mikroskopie a Skenovací “Near-field” optická mikroskopie. Součástí plnění je dodání návodu k obsluze a dodání řídícího software. Bližší specifikace v zadávací dokumentaci.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2011-07-11.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2011-05-17.
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2011-05-17
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2012-12-04
|
Dodatečné informace
|