Analytický skenovací elektronový mikroskop s nanometrickým rozlišením (FE-SEM) s integrovaným xenonovým fokusovaným svazkem v modifikaci „univac”
Předmětem veřejné zakázky je dodávka vědeckého přístroje – univerzální analytické platformy na bázi „SEM + Xe-FIB” pracující ve vysokovakuovém i nízkovakuovém (jen SEM) režimu s možností instalace sady analytických detektorů a funkčních zařízení.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2013-09-15.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2013-07-29.
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
Datum |
Dokument |
2013-07-29
|
Oznámení zadávacího řízení
|
2013-07-30
|
Dodatečné informace
|