Mikroskop atomárních sil AFM
Předmětem veřejné zakázky je dodávka nového a nepoužitého vědeckého přístroje – mikroskopu atomárních sil (AFM) s vysokou stabilitou, přesným systémem ovládání polohy hrotu pro scanování hrotem i rozměrných vzorků. AFM mikroskop musí být vybaven optickou kontrolou pozice vzorku a hrotu a umožňovat měření ve velmi vysokém rozlišení. Přístroj bude využíván pro měření anorganických, organických a biologických vzorků. Přístroj musí umožňovat kontrolovatelný a definovaný opakovatelný přenos vzorku mezi měřícím hrotem a ohniskem konfokálního mikroskopu Olympus. AFM mikroskop musí umožňovat provádět měření vzorků v definovaném kapalném a plynném prostředí v teplotním rozsahu -35-250 °C. Přístroj bude využíván pro výzkumné účely a proto je vyžadována podpora široké škály měřících módů např. kontaktní mód, tapping mód, nano-indentace, nanolitografie, nanomanipulace, měření piezoelektrických a magnetických sil, měření v režimu STM. Součástí nabídky musí být také sofistikovaný software pro zpracování a analýzu naměřených dat.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2014-06-17.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2014-04-28.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2014-04-28
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2014-06-16
|
Dodatečné informace
|
| 2014-09-08
|
Oznámení o zadání zakázky
|