Multifunkční fotoelektronový spektrometr s rychlým vkládáním vzorků, kompenzací povrchového náboje a hloubkovým profilováním polovodičových a organických materiálů, nanostruktur a funkcionalizovaných povrchů
Předmětem dodávky je multifunkční fotoelektronový spektrometr s fokusovaným monochromatizovaným svazkem budícího roentgenového záření.
Pokročilý detekční systém spolu s analyzátorem energie fotoelektronů a zobrazovací optikou musí dovolit detekovat vybuzené fotoelektrony z plochy jednotek um2, s energetickým rozlišením ≤ 0.6 eV a musí umožnit provádění chemické mapy rozložení prvků na povrchu analyzované oblasti.
Součástí elektrooptického systému musí být zařízení pro kompenzaci povrchového náboje. Spektrometr musí být vybaven iontovým zdrojem klastrových Ar+ iontů, který bude používán k měření hloubkových koncentračních profilů.
Dále je v dodávce požadována vkládací (preparační) komora, na níž budou přivařeny příruby pro připojení zařízení k získání dodatečných informací o vlastnostech povrchu zkoumaných vzorků.
Fotoelektronový spektrometr bude používán k charakterizaci a měření hloubkových koncentračních profilů pevných látek (včetně izolátorů) a organických materiálů.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2014-04-14.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2014-02-28.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
Datum |
Dokument |
2014-02-28
|
Oznámení zadávacího řízení
|
2014-03-11
|
Dodatečné informace
|
2014-06-27
|
Oznámení o zadání zakázky
|