XRR reflektometr kombinovaný s XRD difraktometrem a s možností GISAXS
Předmětem veřejné zakázky je pořízení přístroje, který pomocí XRR (X-ray reflectometry) a GISAXS (grazing incidence small-angle X-ray scattering) umožňuje rychle analyzovat povrch studovaných materiálů a sledovat vznikající uspořádané struktury na povrchu a těsně pod ním. Navíc, v kombinaci s využitím metody XRD (X-ray diffraction) a GIWAXS (grazing incidence wide-angle X-ray scattering) umožní současně sledovat změny organizace nadmolekulárních polymerních systémů v různých škálách velikosti.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2015-04-24.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2015-02-26.
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
Datum |
Dokument |
2015-02-26
|
Oznámení zadávacího řízení
|
2015-05-06
|
Dodatečné informace
|