XRR reflektometr kombinovaný s XRD difraktometrem a s možností GISAXS II
Předmětem veřejné zakázky je pořízení přístroje, který pomocí metod „X-ray reflektometry“ (XRR) a „grazing-incidence small-angle X-ray scattering“ (GISAXS) umožňuje rychle analyzovat povrch studovaných materiálů a sledovat vznikající uspořádání struktury na povrchu a těsně pod ním. Navíc, současné využívání metod „X-ray difraction“ (XRD) umožní sledovat současně změny organizace nadmolekulárních polymerních systémů v různých škálách velikosti. Při měření „na odraz“ proniká paprsek do hloubky až několika mikrometrů v závislosti na uhlu dopadu, energii záření a složení materiálu. Pořizovaný přístroj by měl umožnit také klasické XRD měření v geometrii Theta-2Theta. Rozměr studovaných strukturních útvarů leží v rozmezí od několika angstroemů (XRR a XRD) do desítek nanometrů (GISAXS). Měření těmito metodami je velmi rychlé a je při něm analyzována velká plocha vzorku. Pro provádění efektivních a rychlých experimentů je zásadní řízení přístroje a sběr dat počítačem s možností měřit automaticky.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2015-08-20.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2015-06-24.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2015-06-24
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2015-09-14
|
Oznámení o zadání zakázky
|