Veřejné zakázky: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.
6 archivované veřejné zakázky
Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i. byla v minulosti kupcem laboratorní, optické a přesné přístroje a zařízení (mimo skel), kontrolní a zkušební přístroje a mikroskopy.
Dodavatelé stránek Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i. byli v minulosti JPK Instruments AG, Nanoscribe GmbH, Raith GmbH a Vakuum servis s.r.o..
Nedávné veřejné zakázky Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.
2020-05-22
3D Microfabrication system II (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem zakázky je dodávka 3D Mikrofabričního systému, bližší specifikace v rámci ZD. Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem zakázky je dodávka 3D Mikrofabričního systému, bližší specifikace v rámci ZD. Zobrazit zadávací řízení »
2020-03-24
3D Mikrofabrikační systém (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem zakázky je dodávka 3D Mikrofabričního systému, bližší specifikace v rámci ZD Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem zakázky je dodávka 3D Mikrofabričního systému, bližší specifikace v rámci ZD Zobrazit zadávací řízení »
2017-07-17
Atomic force microscope (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem kontraktu je pokročilý mikroskop atomárních sil (AFM) pro studium biologických struktur a nano-materiálů, integrující rastrovací metody a optické zobrazovací metody. Požadovaná funkčnost systému zahrnuje: 1. Měření biologických vzorků ve vodním prostředí. 2. Přístupnost měření pro rozměrné vzorky jako mikroskopové skla nebo petriho misky. 3. Měření silových křivek v kterémkoli bode vzorku. 4. Charakterizace lokálních elektrických vlastností nano-materiálů. 5. Mapování AFM dat na snímky z … Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem kontraktu je pokročilý mikroskop atomárních sil (AFM) pro studium biologických struktur a nano-materiálů, integrující rastrovací metody a optické zobrazovací metody. Požadovaná funkčnost systému zahrnuje: 1. Měření biologických vzorků ve vodním prostředí. 2. Přístupnost měření pro rozměrné vzorky jako mikroskopové skla nebo petriho misky. 3. Měření silových křivek v kterémkoli bode vzorku. 4. Charakterizace lokálních elektrických vlastností nano-materiálů. 5. Mapování AFM dat na snímky z … Zobrazit zadávací řízení »
2014-03-20
Aparatura pro depozici tenkých vrstev ve vakuu (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem veřejné zakázky je aparatura pro depozici tenkých vrstev ve vakuu, umožňující nanášení kovových i dielektrických vrstev pomocí termálního napařování. Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem veřejné zakázky je aparatura pro depozici tenkých vrstev ve vakuu, umožňující nanášení kovových i dielektrických vrstev pomocí termálního napařování. Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
2012-04-02
Řádkovací elektronový mikroskop s elektronovou litografií (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodávka kombinovaného systému řádkovacího elektronového mikroskopu ("Scanning Electron Microscope, SEM") a systému pro elektronovou litografii ("Electron Beam Lithography, EBL") s vysokým rozlišením. Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem veřejné zakázky je dodávka kombinovaného systému řádkovacího elektronového mikroskopu ("Scanning Electron Microscope, SEM") a systému pro elektronovou litografii ("Electron Beam Lithography, EBL") s vysokým rozlišením. Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
2012-04-02
Dodávka multifunkčního nanotechnologického a nanodiagnostického přístroje (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem plnění této veřejné zakázky je dodávka multifunkčního nanotechnologického a nanodiagnostického přístroje typu FIB-SEM-SIMS pro 3D charakterizaci materiálů a nanoobrábění dle níže uvedené technické specifikace včetně dopravy do sídla zadavatele, instalace systému a zaškolení obsluhy Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem plnění této veřejné zakázky je dodávka multifunkčního nanotechnologického a nanodiagnostického přístroje typu FIB-SEM-SIMS pro 3D charakterizaci materiálů a nanoobrábění dle níže uvedené technické specifikace včetně dopravy do sídla zadavatele, instalace systému a zaškolení obsluhy Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »