2020-05-27SEM s vysokým rozlišením (Univerzita Karlova, Přírodovědecká fakulta)
Multifunkční vysoce-rozlišovací skenovací elektronový mikroskop s příslušenstvím pro výukové potřeby kurzů na Přírodovědecké fakultě UK umožňující charakterizaci nano a mikrostruktur v biologických objektech a pokročilé aplikace rastrovací elektronové mikroskopie jako micro-array tomografie (MAT) a korelativní mikroskopie (CLEM). Systém bude tvořen vysoko-rozlišovacím rastrovacím elektronovým mikroskopem s autoemisním zdrojem (FESEM), vybaveným eucentrickým motorizovaným stolkem v komoře mikroskopu, …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Jeol (Europe) SAS- organizační složka
2015-02-19Skenovací elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem pro biologické aplikace (Ústav molekulární genetiky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodávka jednoho (1) kusu skenovacího elektronového mikroskopu s fokusovaným iontovým svazkem pro biologické aplikace pro vědecké laboratoře partnerů projektu BIOCEV. Přístroj představuje část přístrojového vybavení projektu BIOCEV. Minimální technická specifikace mikroskopu je uvedena v čl. 3.1 Předmět plnění veřejné zakázky zadávací dokumentace. Uchazeč je povinen bezezbytku splnit veškeré technické parametry uvedené v zadávací dokumentaci.
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:FEI Europe B. V.
2014-10-30SUSEN – Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí (Centrum výzkumu Řež s.r.o.)
Rastrovací elektronový mikroskop s autoemisním FEG zdrojem – Shottkyho katodou, vhodný pro výzkum zejména radioaktivních kovových materiálů, umožňující výzkum také materiálů vyrobených práškovou metalurgií, nevodivých materiálů, keramických vzorků či kompozitů. Mikroskop je vybaven EDS detektorem pro stanovení chemického složení mikroobjemů materiálů pomocí energiově-dispersní mikroanalýzy rtg-záření a vysokorozlišovacím WDS detektorem s možností detekce lehkých i těžkých prvků. Rozlišení mikroskopu v SE …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Elfast s.r.o.
2014-10-16Dodávka duálního systému SEM/FIB (Univerzita Pardubice)
Předmětem veřejné zakázky je nákup duálního systému SEM/FIB, který umožní charakterizaci a analýzu vodivých i nevodivých materiálů ve velmi vysokém rozlišení a s jehož pomocí bude možné též vytvářet nanostruktury lokální modifikací materiálů fokuzovaným iontovým paprskem nebo svazkem elektronů.
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:KVANT spol. s r.o.
2014-10-01OP VaVpI – Elektronová mikrosonda (Univerzita Karlova v Praze, Přírodovědecká fakulta)
Předmětem veřejné zakázky je pořízení elektronového mikroanalyzátoru, sloužící pro chemickou mikroanalýzu pevných fází (především geologických vzorků) metodou vlnově a energiově disperzní spektrometrie RTG záření (ESD, WDS) a pro studium vzorků pomocí snímkování za použití širokého spektra zobrazovacích metod (BSE, SE, CL) ve velmi vysokém rozlišení. Charakter vzorků, kdy objekty zájmu dosahují submikronových rozměrů (často pod 0,1 μm – inkluze, exsoluční lamely), vyžaduje použití přístroje FEG zdrojem …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:JEOL (EUROPE) SAS – organizační složka
2014-09-09SUSEN – Řádkovací elektronové mikroskopy SEM a SEM-FIB (Centrum výzkumu Řež s.r.o.)
Dodávka zahrnuje dva řádkovací elektronové mikroskopy – SEM s EDS, EBSD detektory a instalovaným stolkem pro mechanické a tepelné zatěžování umožňující „in situ” EBSD analýzu, přístroj je přizpůsoben pro budoucí dovybavení WDS detektorem v případě nesplnění dílčího hodnotícího kritéria č. 2 dle přílohy č. 2 zadávací dokumentace. Druhý přístroj SEM-FIB, který je součástí dodávky, je vybaven detektory EDS, WDS i EBSD. Rozlišení obou řádkovacích elektronových mikroskopů v SE při urychlovacím napětí 30 kV je …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Elfast s.r.o.
2014-06-27Stolní elektronový mikroskop (Západočeská univerzita v Plzni)
Předmětem veřejné zakázky je dodávka stolního elektronového mikroskopu určeného pro pozorování materiálů a struktur a stanovení jejich prvkového složení za účelem realizace výzkumných a vývojových úkolů pracoviště katedry technologií a měření FEL/KET (dále i „Zařízení“).
Zařízení musí být vybaveno příslušným a plnohodnotným softwarem včetně jedné (1) licence a musí vyhovovat vymezení technických podmínek uvedenému v zadávací dokumentaci.
Technické podmínky Zařízení uvedené v zadávací dokumentaci jsou …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:EDLIN, s.r.o.
2014-04-28Skenovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením (Univerzita Pardubice)
Předmětem plnění této veřejné zakázky je dodávka, instalace, proškolení osob a uvedení do provozu skenovacího elektronového mikroskopu s ultravysokým rozlišením. Cílem veřejné zakázky je získat mikroskop, který pracuje s nanometrovým rozlišením, a tím umožnit rozvoj výzkumu v oblasti nanomateriálů a nanotechnologií na Ústavu chemie a technologie makromolekulárních látek i celé Fakulty chemicko-technologické. Další cílem je studium povrchově upravených materiálů, polymerů a kompozitů. Mikroskop umožní …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:JEOL (EUROPE) SAS – organizační složka
2014-03-20Elektronové mikroskopy pro Laboratoř strukturní a fázové analýzy (Vysoké učení technické v Brně)
Předmětem této zakázky je dodávka přístrojového vybavení pro sdílenou laboratoř CEITEC VUT, konkrétně elektronových mikroskopů:
— vysokorozlišující transmisní/rastrovací transmisní elektronový mikroskop (TEM) s příslušenstvím pro zpracování, resp. manipulaci se vzorky,
— vysokorozlišující rastrovací elektronový mikroskop (SEM),
— rastrovací dvojsvazkový mikroskop FIB/SEM.
Mikroskopy představují klíčové přístrojové vybavení pro ucelenou analýzu a přípravu vzorků metodami elektronové/iontové mikroskopie. …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:FEI Europe B. V. – FEI Czech Republic s.r.o.
2014-02-17Elektronový litograf (Vysoké učení technické v Brně)
Předmětem zakázky je dodávka elektronového litografu pro výrobu nano - a mikrostruktur pomocí elektronové litografie.
Požadované zařízení musí být schopno obrazové analýzy litograficky připravených struktur pomocí elektronové mikroskopie detekcí zpětně odražených elektronů.
Zařízení se skládá z procesní komory a nezávisle čerpané zakládací komory.
Celé zařízení bude uloženo na vlastní podpůrné konstrukci. Zařízení musí umožnit i zpětnou kontrolu pomocí technik elektronové mikroskopie.
Dedikovaný …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Měřící technika Morava s.r.o.
2013-04-23Dodávka elektronového mikroskopu (Univerzita Pardubice)
Předmětem plnění veřejné zakázky je dodávka, instalace a uvedení do provozu 1 kusu skenovacího elektronového mikroskopu – rastrovacího elektronového mikroskopu se studenou katodou pro pozorování nevodivých a citlivých vzorků bez nutnosti jejich pokovování včetně příslušenství dle podrobné specifikace vymezené v zadávací dokumentaci.
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:JEOL (EUROPE)SAS – organizační složka