2023-11-24   FIB/SEM mikroskop (Masarykova univerzita)
Předmětem zakázky je dodání, instalace a zaškolení pro práci na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem pracujícím na principu induktivně vázaného plazmatu pro FIB/SEM mikroskopii za kryo-podmínek. Zobrazit zadávací řízení »
Zmínění dodavatelé: FEI Europe B.V.
2017-04-06   Iontový sloupec pro SEM LYRA 3 (Ústav fyziky materiálů AV ČR, v.v.i.)
Dodávka nového Iontového sloupce pro SEM LYRA 3 včetně doplňkového zařízení a řídícího software a související montáž požadovaných součástí na stávající skenovací elektronový mikroskop Tescan Lyra 3 XMH (S/N: MI3231471CZ) ve vlastnictví zadavatele. Zobrazit zadávací řízení »
Zmínění dodavatelé: Tescan Brno, s.r.o.
2014-09-09   SUSEN – Řádkovací elektronové mikroskopy SEM a SEM-FIB (Centrum výzkumu Řež s.r.o.)
Dodávka zahrnuje dva řádkovací elektronové mikroskopy – SEM s EDS, EBSD detektory a instalovaným stolkem pro mechanické a tepelné zatěžování umožňující „in situ” EBSD analýzu, přístroj je přizpůsoben pro budoucí dovybavení WDS detektorem v případě nesplnění dílčího hodnotícího kritéria č. 2 dle přílohy č. 2 zadávací dokumentace. Druhý přístroj SEM-FIB, který je součástí dodávky, je vybaven detektory EDS, WDS i EBSD. Rozlišení obou řádkovacích elektronových mikroskopů v SE při urychlovacím napětí 30 kV je … Zobrazit zadávací řízení »
Zmínění dodavatelé: Elfast s.r.o.
2014-03-20   Elektronové mikroskopy pro Laboratoř strukturní a fázové analýzy (Vysoké učení technické v Brně)
Předmětem této zakázky je dodávka přístrojového vybavení pro sdílenou laboratoř CEITEC VUT, konkrétně elektronových mikroskopů: — vysokorozlišující transmisní/rastrovací transmisní elektronový mikroskop (TEM) s příslušenstvím pro zpracování, resp. manipulaci se vzorky, — vysokorozlišující rastrovací elektronový mikroskop (SEM), — rastrovací dvojsvazkový mikroskop FIB/SEM. Mikroskopy představují klíčové přístrojové vybavení pro ucelenou analýzu a přípravu vzorků metodami elektronové/iontové mikroskopie. … Zobrazit zadávací řízení »
Zmínění dodavatelé: FEI Europe B. V. – FEI Czech Republic s.r.o.
2013-05-13   Dodávka zařízení pro nanoobrábění fokusovaným iontovým svazkem (focussed ion beam – FIB) (Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je zařízení pro rychlé prototypování a vývoj kovových a dielektrických nanostruktur pomocí nanoobrábění fokusovaným iontovým svazkem (focused ion beam – FIB). Zařízení musí obsahovat iontový sloupec s kapalným zdrojem iontů Galia, s vysokým rozlišením, umožňující nanostrukturování kovových i dielektrických materiálů s vysokou mírou detailu.Bližší specifikace je uvedena v bodě 4 zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
Zmínění dodavatelé: FEI Europe B.V.
2012-06-26   Kombinovaný elektronový a iontový mikroskop – FIB s příslušenstvím (Vysoká škola chemicko-technologická v Praze)
Předmětem dodávky je kombinovaný elektronový a iontový mikroskop (FIB) s možností pozorování vzorku pomocí sekundárních i zpětně odražených elektronů. Mikroskop bude vybaven dvěma manipulátory pro přípravu lamel pro TEM a provádění elektrických měření. Softwarové vybavení bude umožňovat 3D rekonstrukci studovaného materiálu a kreslení elektronovým a iontovým svazkem - litografii. Mikroskop bude vybaven detektory EDS typu SDD, EBSD, STEM, EBIC a SIMS typu TOF. Mikroskop umožňuje prácí i v nízkovakuovém … Zobrazit zadávací řízení »