Kombinovaný elektronový a iontový mikroskop – FIB s příslušenstvím
Předmětem dodávky je kombinovaný elektronový a iontový mikroskop (FIB) s možností pozorování vzorku pomocí sekundárních i zpětně odražených elektronů. Mikroskop bude vybaven dvěma manipulátory pro přípravu lamel pro TEM a provádění elektrických měření. Softwarové vybavení bude umožňovat 3D rekonstrukci studovaného materiálu a kreslení elektronovým a iontovým svazkem - litografii. Mikroskop bude vybaven detektory EDS typu SDD, EBSD, STEM, EBIC a SIMS typu TOF. Mikroskop umožňuje prácí i v nízkovakuovém modu pro pozorování nevodivých vzorků.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2012-08-21.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2012-06-26.
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2012-06-26
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2012-08-21
|
Dodatečné informace
|
Nové veřejné zakázky v souvisejících kategoriích 🆕