2012-08-010060_VZ021 – Zatěžovací zařízení (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání zatěžovací zařízení - 1. nebo 2. část jako samostatného celku, jehož technické parametry jsou shrnuty v samostatné příloze č. 7 – Technická specifikace pro 1. a 2. část: 1. část veřejné zakázky – Zatěžovací zařízení – 300 kN 2. část veřejné zakázky – Zatěžovací zařízení – 100 kN Součástí dodávky 1. i 2. části dále bude:
— podrobný návod k použití v českém jazyce,
— doprava na místo určené zadavatelem a základní zprovoznění v místě včetně zaškolení obsluhy,
— dodávka …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-07-030060_VZ026 – Ramanův spektrometr s mikroskopem (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání Ramanova spektrometru s mikroskopem, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace:
1) Ramanův spektrometr s mikroskopem.
Součástí dodávky dále bude:
— doprava na místo určené zadavatelem a základní zprovoznění v místě včetně zaškolení obsluhy,
— aplikační a servisní podpora v českém jazyce,
— manuály k přístroji v českém jazyce,
— záruční dobu na veškeré stroje zadavatel stanoví …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-07-030060_VZ073 – FTIR mikroskop (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání FTIR, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace:
1) FTIR mikroskop.
Součástí dodávky dále bude:
— záruka 24 měsíců a dostupnost náhradních dílů po dobu udržitelnosti projektu, tj. do roku 2018,
— zaškolení přímo na dodaném přístroji, uživatelská podpora,
— doprava na místo určené zadavatelem a kompletní uvedení do provozu,
— databáze spekter a struktur pro identifikaci …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-06-260060_VZ026 – Ramanův spektrometr s mikroskopem (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání Ramanova spektrometru s mikroskopem, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace:
1) ramanův spektrometr s mikroskopem.
Součástí dodávky dále bude:
— doprava na místo určené zadavatelem a základní zprovoznění v místě včetně zaškolení obsluhy,
— aplikační a servisní podpora v českém jazyce,
— manuály k přístroji v českém jazyce,
— záruční dobu na veškeré stroje zadavatel stanoví …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-05-040060_VZ010 – Zařízení pro rentgenovou difrakci (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání zařízení pro rentgenovou difrakci, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace:
Zařízení pro rentgenovou difrakci Součástí dodávky dále bude:
— bezplatný servis a update po dobu 2 let od instalace a dostupnost náhradních dílů po dobu udržitelnosti projektu, tj. do roku 2018,
— zaškolení v místě, uživatelská podpora,
— doprava na místo určené zadavatelem a uvedení do provozu.
Zobrazit zadávací řízení »
2012-03-190060_VZ012 - Transmisní rentgenka s vysokým rozlišením a rentgenka s vysokým výkonem (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodání transmisní rentgenky s vysokým rozlišením a rentgenky s vysokým výkonem, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace a který obsahuje tyto položky:
(1) Transmisní rentgenka s vysokým rozlišením;
(2) Rentgenka s vysokým výkonem Součástí dodávky dále bude:
— Návod k použití v českém nebo anglickém jazyce,
— základní zprovoznění v místě včetně zaškolení obsluhy,
— …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-03-190060_VZ025 – Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) a naprašovačka (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM) a naprašovačky, jejichž podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace: 1) Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) 2) Naprašovačka Součástí dodávky dále bude:
— záruka 24 měsíců a dostupnost náhradních dílů po dobu udržitelnosti projektu, tj. do roku 2018,
— zaškolení ve dvou fázích - po instalaci a po 1/4 roce užívání, uživatelská podpora,
— …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-03-190060_VZ014 – Flat panel pro vysoké energie a flat panel pro nízké energie (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodání flat panelu pro vysoké energie a flat panelu pro nízké energie, jejichž podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace a který obsahuje tyto položky: (1) Flat panel pro vysoké energie (2) Flat panel pro nízké energie Součástí dodávky dále bude:
— Návod k použití v českém nebo anglickém jazyce,
— základní zprovoznění v místě včetně zaškolení obsluhy,
— autorizovaný záruční …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-03-130060_VZ010 – Zařízení pro rentgenovou difrakci (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání zařízení pro rentgenovou difrakci, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace:
Zařízení pro rentgenovou difrakci Součástí dodávky dále bude:
— bezplatný servis a update po dobu 2 let od instalace a dostupnost náhradních dílů po dobu udržitelnosti projektu, tj. do roku 2018,
— zaškolení v místě, uživatelská podpora,
— doprava na místo určené zadavatelem a uvedení do provozu.
Zobrazit zadávací řízení »
2012-03-050060_VZ028 – Optický emisní spektrometr s indukčně vázanou plasmou ICP-OES (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání optického emisního spektrometru s indukčně vázanou plasmou ICP-OES, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace: 1) Optický emisní spektrometr s indukčně vázanou plasmou ICP-OES Součástí dodávky dále bude:
— záruka 24 měsíců a dostupnost náhradních dílů po dobu udržitelnosti projektu, tj. do roku 2018,
— kompletní zaškolení přímo na dodaném přístroji až do úplného zvládnutí …
Zobrazit zadávací řízení »
2012-02-100060_VZ022 - Měřící a regulační systém KT (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodání Měřícího a reulačního systému KT – 1., 2. nebo 3. části jako samostatného celku, jejichž podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace pro 1., 2. a 3. část, a které obsahují tyto položky: Položky 1. části měřícího systému:
(1) PIV systém
(2) Multichannel CTA - pro měření fluktuací, odtržení atd.
(3) Samostatná referenční sonda rychlosti
(4) Helium Bubble Generator
(5) …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Dantec Dynamics GmbHDewetron-Praha spol. s r.o.
2012-02-01Dodávka serverového zázemí (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodání Serverového zázemí, jehož podrobná specifikace a technické parametry musí odpovídat požadavkům zadavatele stanovených v příloze č. 6 – Technická specifikace a které obsahuje tyto položky: 1. Servery, 2. Služební počítač pro dálkovou diagnostiku, správu a dohled nad sítí, 3. Router, 4. L2 switch, 5. UPS, 6. KVM přepínač, konzole 7. Racková skříň, 8. SW Novell netware 6.5 academic license, 9. WiFi access pointy, 10. Systém automatického dohledu, diagnostiky a …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:MarCon, spol. s r.o.
2011-12-300060_VZ007 - Dodávka Gama a fluorescenční kamery (Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i.)
Předmětem veřejné zakázky je dodání Gama a fluorescenční kamery. Pro neutronovou radiografii spojenou s analýzou materiálového složení zkoumaného objektu na pracoviště CET Telč je plánována gama/fluorescenční kamera. Gama kamera je určena k detekci promptního gama záření, vyvolaného reakcí neutronů na atomových jádrech, které je spojeno s prvkovým složením zkoumaného materiálu. Gama kamera, která měří směr, odkud promptní gama záření vychází, umožňuje určit prvkové složení zkoumaného objektu v …
Zobrazit zadávací řízení »