Dodavatel: IONTOF GmbH
2 archivované veřejné zakázky
IONTOF GmbH byla v minulosti dodavatelem laboratorní, optické a přesné přístroje a zařízení (mimo skel), nástroje pro kontrolu fyzických vlastností a elektrické strojní zařízení, přístroje, zařízení a spotřební materiál, osvětlení.
Nedávné veřejné zakázky, u nichž je uveden dodavatel IONTOF GmbH
2018-02-14
Vysokovakuový rastrovací sondový mikroskop (Vysoké učení technické v Brně, Středoevropský technologický institut)
Předmětem zakázky je dodávka vakuového rastrovacího sondového mikroskopu umožňujícího SPM měření ve vnějším magnetickém poli. Zařízení musí být dále schopno provádět komplementární analýzu SIMS kráterů vytvořených v průběhu měření na zařízení ION TOF TOF.SIMS5. Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které jsou součástí zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem zakázky je dodávka vakuového rastrovacího sondového mikroskopu umožňujícího SPM měření ve vnějším magnetickém poli. Zařízení musí být dále schopno provádět komplementární analýzu SIMS kráterů vytvořených v průběhu měření na zařízení ION TOF TOF.SIMS5. Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které jsou součástí zadávací dokumentace. Zobrazit zadávací řízení »
2018-02-14
Modernizace zařízení pro hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (Vysoké učení technické v Brně, Středoevropský technologický institut)
Předmětem této zakázky jsou dva iontové zdroje, které rozšíří možnosti stávajícího zařízení TOF-SIMS5. Jedná se o zdroj plynových clusterů (GCS), umožňující vylepšené profilování hloubky metodou hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS) a galiový fokusovaný iontový zdroj (FIB), umožňující 3D tomografii metodou SIMS na přístroji TOF-SIMS5. Oba tyto zdroje musí být integrovány a instalovány do stávajícího zařízení TOF-SIMS5. Z důvodu komplikované integrovatelnosti obou zdrojů do stávajícího … Zobrazit zadávací řízení »
Předmětem této zakázky jsou dva iontové zdroje, které rozšíří možnosti stávajícího zařízení TOF-SIMS5. Jedná se o zdroj plynových clusterů (GCS), umožňující vylepšené profilování hloubky metodou hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS) a galiový fokusovaný iontový zdroj (FIB), umožňující 3D tomografii metodou SIMS na přístroji TOF-SIMS5. Oba tyto zdroje musí být integrovány a instalovány do stávajícího zařízení TOF-SIMS5. Z důvodu komplikované integrovatelnosti obou zdrojů do stávajícího … Zobrazit zadávací řízení »