SPM mikroskop s možností měření v externím magnetickém poli
Předmětem veřejné zakázky je dodávka SPM mikroskopu s možností měření v externím magnetickém poli. Jedná se o systém mikroskopu skenující sondou (SPM) pracující na principu trojrozměrného skenování povrchů, který využívá k měření externí magnetické pole v rovině vzorku (in plane) a kolmo k rovině vzorku (out of plane). Mikroskop bude využit v široké škále aplikací (např. materiálová analýza, biotechnologie), zejména však ke studiu magnetických materiálů, procesech v nich probíhajících (vizualizace magnetických domén, procesů magnetizace, demagnetizace v nanokompozitech, rychle ztuhlých kovech, tenkých vrstvách) a vlivu externího magnetického pole na tyto materiály.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2011-12-13.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2011-09-07.
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2011-09-07
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2012-04-24
|
Oznámení o zadání zakázky
|
Nové veřejné zakázky v souvisejících kategoriích 🆕