Nízkoteplotní sytém pro měření elektromagnetických vlastností
Předmětem zakázky je dodávka zařízení pro nízkoteplotní elektrickou charakterizaci zejména polovodičových materiálů. Dané zařízení je určeno pro měření kontaktovaných 2D, případně 3D struktur jako jsou senzory, dielektrické vrstvy, MEMS prvky apod. Sestava musí obsahovat vakuový dvoustupňový teplotně regulovaný kryostatický modul s vlastním uzavřeným okruhem chlazení jednotlivých stupňů a zařízením pro dosažení vakua. Dále obsahuje generátor magnetického pole včetně zdrojů a regulace. Zařízení obsahuje čtyři mikromanipulátory nad držákem vzorků, který musí pojmout vzorek minimálně o průměru 25 mm. Celé zařízení je uloženo na vlastním podpůrném stole. Součástí dodávky je i výpočetní stanice se software umožňující nastavení a monitorování provozu kryostatu – teplot, rotace vzorku, intenzity magnetického pole. Dodávka bude realizována včetně instalace, uvedení do provozu a zaškolení obsluhy. Bližší specifikace je uvedena v zadávací dokumentaci.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2013-09-05.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2013-07-09.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2013-07-09
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2013-08-14
|
Dodatečné informace
|
| 2013-10-24
|
Oznámení o zadání zakázky
|