Rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS)
Předmětem dodávky je kompletní systém pro charakterizaci povrchů pevných látek metodou rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) s parametry splňujícími následující požadavky. Kompletní multifunkční vysokorozlišovací spektrometr včetně kompletního vakuového systému, chladícího systému, monochromatizovaného zdroje rentgenového záření, detekčního systému se spektrometrem, kompletní elektronický systém, řídící a vyhodnocovací datastanice s OS Windows XP/7/8, ovládací a vyhodnocovací SW balík spektrometru. K systému je připojena přípravná komora a zakládací komora. XPS systém musí umožňovat rutinní analýzu všech typů pevných látek: kovů, polovodičů, oxidů a polymerů, a to i práškových vzorků. Systém rovněž umožňuje předchlazení vzorků v inertní atmosféře při jejich zakládání. XPS systém musí být schopen provádět XPS měření s vysokým rozlišením, XPS analýzu z malé plochy, prvkové a chemické zobrazování a mapování, hloubkové profilování nakláněním vzorku i odprašováním materiálů elektricky vodivých i izolantů. Systém musí umožňovat provádět operativně vypékací proceduru bez nutnosti provádění předběžných HW úprav měřícího systému. Podrobná specifikace je uvedena v zadávací dokumentaci.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2013-11-14.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2013-09-22.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2013-09-22
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2014-03-05
|
Oznámení o zadání zakázky
|