Vysokovakuový rastrovací sondový mikroskop
Předmětem zakázky je dodávka vakuového rastrovacího sondového mikroskopu umožňujícího SPM měření ve vnějším magnetickém poli. Zařízení musí být dále schopno provádět komplementární analýzu SIMS kráterů vytvořených v průběhu měření na zařízení ION TOF TOF.SIMS5.
Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které jsou součástí zadávací dokumentace.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2018-03-19.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2018-02-14.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2018-02-14
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2018-05-30
|
Oznámení o zadání zakázky
|