Nedávné veřejné zakázky, u nichž je uveden dodavatel ION-TOF GmbH
2013-10-29Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS) (Vysoké učení technické v Brně)
Předmětem zakázky je dodávka zařízení pro hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS) včetně nízkoenergiové iontové spektroskopie (LEIS). Zařízení je určeno pro in-situ povrchovou prvkovou analýzu. Zařízení se skládá ze dvou nezávislých ultravakuových komor pro jednotlivé metody včetně dvou zakládacích komor (loadlock). Zařízení umožňuje analýzu vzorků minimálně do průměru 75 mm. Komora pro metodu SIMS musí umožňovat připojení až pěti iontových zdrojů. Je požadováno hmotnostní rozlišení metody …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:ION-TOF GmbH