Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS)
Předmětem zakázky je dodávka zařízení pro hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS) včetně nízkoenergiové iontové spektroskopie (LEIS). Zařízení je určeno pro in-situ povrchovou prvkovou analýzu. Zařízení se skládá ze dvou nezávislých ultravakuových komor pro jednotlivé metody včetně dvou zakládacích komor (loadlock). Zařízení umožňuje analýzu vzorků minimálně do průměru 75 mm. Komora pro metodu SIMS musí umožňovat připojení až pěti iontových zdrojů. Je požadováno hmotnostní rozlišení metody SIMS lepší než R větší než 6 000 (poměr m/Δm) při propustnosti analyzátoru větší než 3x108 Al+nC-1, citlivost metody LEIS lepší než 2 % z monovrstvy pro prvky od Li do U, neutralizace náboje, hloubkové profilování minimálně pomocí iontů a iontových klastrů. Celé zařízení je uloženo na vlastní podpůrné konstrukci. Součástí dodávky jsou i výpočetní stanice a software pro SIMS a LEIS umožňující nastavení a monitorování provozu zařízení a dále software pro vyhodnocování měřených dat.Podrobný popis předmětu zakázky je uveden v zadávací dokumentaci.
Termín
Lhůta pro podání nabídek byla 2014-01-07.
Veřejná zakázka byla zveřejněna na 2013-10-29.
Dodavatelé
V rozhodnutích o udělení zakázky nebo v jiné zadávací dokumentaci jsou uvedeni tito dodavatelé:
Kdo?
Cože?
Kde?
Historie zadávání veřejných zakázek
| Datum |
Dokument |
| 2013-10-29
|
Oznámení zadávacího řízení
|
| 2013-12-10
|
Dodatečné informace
|
| 2014-06-17
|
Oznámení o zadání zakázky
|