2020-06-19UPT-VZ-20-02: Mikroskop atomárních sil (AFM) (Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.)
Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodávka, instalace a uvedení do úplného provozu mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskop atomárních sil (AFM, z eng. Atomic Force Microscopy) je měřicí přístroj využívaný ke studiu povrchových vlastností vodivých i nevodivých vzorků. AFM je schopen snímat trojrozměrné mapy (topografie) a povrchové vlastností vzorku a to jak na vzduchu, tak i v kapalném prostředí, s velmi vysokým laterálním, vertikálním a silovým rozlišením.
Měřící sonda AFM je tvořena velmi ostrým …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Měřicí technika Morava, s.r.o.
2020-06-01AFM mikroskop pro biomechanické studie kombinovaný s optickým fluorescenčním mikroskopem (Masarykova univerzita)
Předmětem veřejné zakázky je kombinace optického invertovaného mikroskopu a mikroskopu atomárních sil pro zobrazování bioobjektů (tkáně, buňky, biomolekuly) s možností manipulace bioobjektů a nanočástic pomocí samostatného hardwarového řešení. Konstrukce držáku vzorků - tzv. sample stage poskytne možnost provádět skenování pomocí vzorku a tím umožní studium na delších skenovacích rozměrech. Součástí sestavy má být také samostatný indentační modul pro efektivní zisk zatěžovacích charakteristik bioobjektů.
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Měřicí technika Morava, s.r.o.
2020-01-08LF UPOL – Virtuální mikroskop / skener (Univerzita Palackého v Olomouci)
Předmětem veřejné zakázky je dodávka, instalace, zaškolení obsluhy kvalifikovaným pracovníkem a zajištění záručního servisu jednoho kusu virtuálního mikroskopu a skeneru, určeného pro automatizovanou digitalizaci a hodnocení bioptických preparátů s možností on-line manipulace a archivace pro výukové a vědecké účely.
Podrobná technická specifikace je uvedena viz odst. 2.2 Zadávací dokumentace.
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Olympus Czech Group, s.r.o., člen koncernu
2017-09-13Dodávka AFM systému (Jihočeská univerzita v Českých Budějovicích)
Předmětem veřejné zakázky je dodávka zobrazovacího systému mikroskopie atomárních sil (AFM). AFM je metoda vysokorozlišovací mikroskopie (v řádu nanometrů), která je založena na principu skenování povrchu sondou, a umožňuje studium morfologie materiálů s rozlišením v řádech nanometrů.
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:JPK Instruments AG
2017-02-15Nanorobots – Elektrochemický mikroskop atomárních sil (Vysoká škola chemicko-technologická v Praze)
Elektrochemický mikroskop atomárních sil (AFM) je vybaven pro pozorování morfologie povrchů na vzduchu i v kapalinách a studium změn morfologie elektrod v průběhu elektrochemických procesů. Mikroskop současně umožňuje pokročilé charakterizační techniky pro povrchy včetně metod jako MFM, SSRI, LFM, KPFM, PFM, EFM, spektroskopických měření a litografických technik. Mikroskop je vybaven aktivní antivibrační platformou, akustickou a elektromagnetickou ochranou při měření a vyhřívaným držákem vzorků. …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:ANAMET s.r.o.
2015-07-09Elektrochemický skenovací mikroskop (SECM-AFM) (Univerzita Palackého v Olomouci)
Předmětem plnění veřejné zakázky je dodávka, instalace, zaškolení obsluhy kvalifikovaným pracovníkem a zajištění záručního a garance pozáručního servisu 1 ks kompletního plně funkčního zařízení pro skenovací elektrochemickou mikroskopii kombinovanou s mikroskopií atomárních sil (dále jen SECM-AFM). Hlava AFM skeneru musí být uzpůsobena pro měření v kapalinách, utěsněná proti vniknutí kapalin a vlhkosti. Elektrochemická cela musí být uzavřena krytem umožňujícím pracovat v kontrolované atmosféře a za …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Měřicí technika Morava, s.r.o.
2014-06-01Komplexní zákaznická UHV aparatura (Vysoké učení technické v Brně)
Předmětem zakázky je dodávka souhrnu analytických a preparačních metod seskupených do jednoho vzájemně propojeného celku nazvaného UHV komplexní systém pro výrobu a charakterizaci ultratenkých vrstev a nanostruktur. Komplexní UHV systém spojuje in-situ preparační a analytické metody studia povrchů a tenkých vrstev a to jak anorganických, tak i organických. Uspořádání aparatury a výběr analytických metod umožní studium struktury povrchových vrstev vzorků, jejich chemického složení a elektronové struktury …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Měřicí technika Morava, s.r.o.
2013-09-19Konfokální laserový mikroskop s mikroskopií atomárních sil (Vysoké učení technické v Brně)
Předmětem zadávacího řízení je konfokální laserový rastrovací mikroskop (CLSM) s mikroskopií atomárních sil (AFM) pro materiálové vědy, umožňující velmi rychlé a efektivní 2D a 3D pozorování a přesné vyhodnocení povrchů pevných materiálů včetně vzorků nepravidelného tvaru, tkanin, tenkých vrstev, vláken, prášků a dalších. AFM modul umožňuje mikroskopii atomárních sil (nanometrické měřítko) z místa povrchu vzorku pozorovaného pod CLSM včetně studia vzniku nových struktur in-situ, kdy je pořízen reálný 3D …
Zobrazit zadávací řízení » Zmínění dodavatelé:Olympus Czech Group, s.r.o., člen koncernu